7


  • Учителю
  • Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках

Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках

Автор публикации:
Дата публикации:
Краткое описание:
предварительный просмотр материала



УДК 537.311.33



Вклад резонансного рассеяния носителей заряда

в уширение кривой классического циклотронного резонанса в квазидвуХ - и трехмерных полупроводниках



Т.Т. Муратов1



Получены асимптотические формулы для уширения кривой поглощения классического циклотронного резонанса (ЦР) в условиях резонансного рассеяния электронов на атомах примеси. Расчеты проведены с учетом распределения Максвелла. Оценки показывают, что возможный резонансный уровень (~ 0,0067мэВ) в квазидвумерных полупроводниках на порядок и два меньше чем в объемных (порядка мэВ). Это указывает на то, что область преобладания резонансного рассеяния в квазидвумерных полупроводниках менее 0, 1 K. Зафиксировано температурное «плато» 10 ÷ 12 K в 2D спектре поглощения, соответствующее «области непрозрачности». Обсуждаются пре- делы применимости полученных результатов.

Ключевые слова: циклотронный резонанс; уширение; резонансное рассеяние; асимптотические формулы.



Введение

При очень низких (Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахK) температурах в полупроводниках часто реализуются условия, когда основным механизмом рассеяния свободных электронов (дырок) становится рассеяние на нейтральных атомах примеси. Мелкая примесь имеет целый спектр возбужденных Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахсостояний и если один отщепленный Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахуровень примыкает к дну зоны проводимости Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках, то возможно резонансное рассеяние носителей тока [1]. В принципе, это позволяет заменить атом мелкой примеси некоторым модельным потенциалом. Для объёмных полупроводников таким модельным потенциалом может быть трехмерная прямоугольная потенциальная яма, для квазидвумерных - двумерная прямоугольная яма.

Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахрезонансный уровень, локализованный вблизи Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках, оказывает существенное влияние на процессы переноса энергии и заряда носителями при различных внешних условиях [2], например, при наличии слабого магнитного поля электронная проводимость невырожденного полупроводника достигает максимума (Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахK , Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках Э), причем слабое Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахполе учитывается своеобразно - как приращение радиуса резонансного центра [3]. Подход, развитый в работе [3], в принципе позволяет исследовать влияние резонансного рассеяния носителей тока на электронные явления переноса и при условиях классического предела циклотронного резонанса (ЦР). Однако в работах [2 , 3] Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахрезонансный уровень строго фиксирован и имеет статичный характер, что затрудняет зондирование произвольных примесных глубин в условиях классического ЦР. Эта трудность устранена в работе [4], в которой получены формулы для полуширины кривой поглощения ЦР, причем они выражены через длину рассеяния и, следовательно, справедливы для произвольного потенциала примеси конечного радиуса действия. Формулы для времени релаксации также выражены через длины 2D- и 3D рассеяния.

В невырожденных полупроводниках длина волны электрона Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках и при сверхнизких температурах существенны квантово-статистические поправки. В области температур, соответствующих резонансным глубинам примесного потенциала, можно ограничиться квазиклассическим рассмотрением (см. прим. 1), но и здесь следует учесть статистику. Дело в том, что время релаксации Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках есть среднее время свободного пробега, т.е. время между двумя актами рассеяния. Оно определяется длиной свободного пробега и полной скоростью электрона, но не скоростью дрейфа в магнитном поле. Полная скорость зависит от Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахкинетической энергии электрона. Тем самым Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках. Эта зависимость усложняется в том случае, когда длина свободного пробега также зависит от Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках. Поэтому для нахождения Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахуширения линии ЦР, как и множества других параметров, необходимо усреднять как Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках, так и Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках, а также и другие величины, с учетом функции распределения электронов по энергии. Однако в работе [4] время релаксации, а вслед за этим и полуширина линии поглощения Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках, лишь оцениваются характерным параметром Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках (Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахэффективная масса электрона, Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахконстанта Больцмана). Такой подход, на наш взгляд, является не вполне корректным и требует проведения более детального расчета.

Как следует из классической статистики, нет необходимости, чтобы энергия электрона была близка к резонансному уровню модельного потенциала. Игнорирование этого факта [4] может привести к неточным выводам. Вывод о том, что Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках [4] сомнителен и требует тщательного анализа. Замена волнового числа тепловым параметром не позволяет учесть более быстрые и более медленные электроны, а ведь именно они формируют хвост распределения Максвелла в области очень низких и высоких температур. Представление о невзаимодействующих электронах также крайне упрощенное [4]. При таком подходе утрачивает сам смысл перераспределения энергии между степенями свободы при различных механизмах рассеяния носителей.

В предлагаемой работе производится расчет полуширины кривой поглощения при резонансном рассеянии электронов на нейтральных примесях в квазидвух - и трехмерных полупроводниках путем усреднения с максвелловским весом. Уточняются пределы применимости полученных формул. Частота внешнего электрического поля весьма близка к циклотронной частоте, так что влияние нейтральных примесей, ионов примеси и акустических фононов сводится, как правило, к нарушению (размытию) спектра поглощения, т.е. как если бы не было заряженных и нейтральных примесей, фононов и т.д., то и не было бы уширения. Ясно, что в рамках вычислений, проводимых с использованием формулы Эргинсоя [5], нельзя получить формулу для уширения кривой классического ЦР (Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках ). Анализируются особенности в спектре поглощения.



1. Расчет асимптотики уширения линии циклотронного резонанса

Циклотронный резонанс имеет простой физический смысл. Электрон в Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахполе движется по окружности с циклотронной частотой Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках. Если в плоскости этой окружности включить электрическое поле, причем изменять его направление так, чтобы оно совпадало с направлением движения электрона, то электрон все время будет забирать энергию от поля. В этом случае, как и при движении в постоянном Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахполе, электрон ускоряется до тех пор, пока не столкнется с атомом примеси. Поэтому в обоих случаях частота соударения электрона с атомом порядка Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках. Если Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках, т.е. оптимальные условия резонанса с полем не выполняются, проводимость значительно ниже. При точном резонансе с полем проводимость достигает статического режима. Именно в этом режиме существенно влияние резонансного рассеяния носителей на уширение ли- нии ЦР. Электроны, выбывшие из резонанса с Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахполем, уже резонируют на примесных атомах. При этом предполагается, что мощности потенциала мелкой примеси недостаточно для образования связанного состояния, причем тепловое размытие примесных уровней на порядок и два меньше их кулоновских расстояний.

Рассмотрим q2D- и 3D-полупроводник, находящийся в скрещенных однородном магнитном Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахи резонансном электрическом Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках полях. Пусть невырожденный газ слабовзаимодействующих между собой электронов рассеивается на хаотически расположенных нейтральных центрах в условиях классического ЦР. Концентрацию примесей считаем малой, т.е. одновременное рассеяние носителей на двух и более центрах не учитываем, что соответствует обычному газовому приближению [6]. Амплитуды и сечения резонансного двух- и трехмерного рассеяния медленного электрона (Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках) определяются стандартно [7, стр. 638 - 639]:

Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках, Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках; (1)

Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках, Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках . (2)

Здесь Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках, (С - постоянная Эйлера), Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках, Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках и Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахдлины двух и трехмерного рассеяния. В области температур соответствующих резонансным глубинам: Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках, Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках (это и есть размеры волновых функции резонансных уровней) [4], где Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках - радиус 2D- и 3D модельного потенциала примеси; Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках, Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках - расстройка потенциала от Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках, Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахглубина трехмерной (двумерной) ямы.

Если Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках рассеяние происходит на резонансном уровне, при Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках - на виртуальном уровне. Тогда на основе формул (1) и (2) для полуширины линии поглощения ЦР Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахИзучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках имеем

Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках

Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках

Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках

Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках . (3)

Здесь Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахконцентрация атомов примеси, измерения показывают что Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахсм - 3 [2], Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках, Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахэффективный резонансный уровень.

Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках , Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках.

Пользуясь разложением в ряд и асимптотическим выражением для Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахможно по- казать, что [1]

Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках (Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках) , (4)

Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках (Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках) . (5)

Подставляя (4) и (5) в точную формулу (3) получаем предельные формулы:

Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках, (Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках) ; (6)

Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках, (Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках) . (7)

Как и следовало ожидать, в области «высоких температур» (Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках) влияние резонансных центров (на фоне других механизмов рассеяния) на уширение кривой поглощения ЦР, исчезающе мало. Аналогичные зависимости получаются и в квантовом пределе ЦР [8]. Отличие состоит лишь в том, что в работе [8] усреднение проводилось на основе равновесной функции распределения в квантующем магнитном поле. Дело в том, что в условиях квантующих Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахполей невырожденные электроны расположены на нулевом уровне Ландау, в пределах которого плотность состояний Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках; вследствие этой зависимости вместо формулы (3) мы получимИзучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках. Соответственно, правомерны и зависимости (6) и (7). Примерно при 2 K на нулевом уровне Ландау можно наблюдать вполне четкий резонанс (Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках) (см. математическое дополнение). Следовательно, и в классическом пределе ЦР, в определенной области температур и глубин ямы, можно ожидать появления максимума полуширины линии поглощения.

Следует отметить, что под «высокими температурами» мы здесь понимаем область выше области температур, соответствующих резонансным глубинам. Таким образом, профиль полуширины линии поглощения: Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках. Эту асимптотику можно интерпретировать так: кривая поглощения резонансно уширяется за счет слишком «быстрых» или слишком «медленных» электронов, из-за распределения Максвелла. Из (6) следует, что окрестность абсолютного нуля якобы идеально соответствует ЦР (см. прим. 2). Именно из-за распределения Максвелла и учета слабого взаимодействия между электронами не происходит разогрева электронов. Они успевают дерезонировать, т.е. выбывать из резонанса только путем рассеяния друг на друге, до нарушения закона Ома. Ясно, что в промежутке между двумя ветвями: Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахи Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках, как уже отмечалось, где-то должен быть максимум, в противном случае мы просто не получим кривую, характерную для ЦР (рис. 1). В области температур Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахK начинает также давать вклад в уширение рассеяние на акустических фононах Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках [1]. Начиная с Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахK необходим учет рассеяния на заряженных примесях, точечных дефектах, дислокациях, границах кристаллитов и т.д., так что полное уширение

Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках.

Здесь следует уточнить, что подразумевается под каждым слагаемым: первый член соответствует уширению за счет остатка резонансного рассеяния на нейтральных примесях (асимптотика (7)), второй - за счет рассеяния на ионах примеси, третий обусловлен акустическими фононами. При очень низких температурах достаточно ограничиться (в нашем случае) резонансным рассеянием электронов; асимптотика (6).

Учет акустических фононов (в рамках метода деформационного потенциала) вблизи абсолютного нуля не имеет смысла, так как формула для длины свободного пробега Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках [1] при температурах, близких к абсолютному нулю, неприменима. Соответствующий расчет [6] дает для Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках две ветви:Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахи Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках(рис.1), откуда доопределяется асимптотика (7):

Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках, (7а)

Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках . (7б)

Оценки показывают, что уширение линии ЦР в объемных образцах можно наблюдать в ИК-диапазоне частот (субмиллиметровый диапазон, Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахK (см. прим. 2)).

В том случае, когда столкновения носят мгновенный характер, в определенном интервале температур профиль контура поглощения приобретает характерную прямоугольную форму, края которой спадают по мере удаления от максимума Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках, что соответствует Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках.

Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках

Рис. 1. Температурный ход полуширины линии поглощения ЦР при различных механизмах рассеяния. Сплошной кривой соответствует резонансное рассеяние на нейтральных примесях, штрихам и кружочкам, соответственно, рассеяние на тепловых колебаниях решетки и на ионах примеси. Окрестность нулевой температуры: 0 ÷ 0,05 K приближенно описывается формулой (16) (см. прим. 2).

В квазидвумерном случае (q2D)

Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках

Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках

Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках. (8)

Здесь Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахэнергия движения в плоскости Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках, Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахповерхностная концентрация при- месей, обычно Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахсм - 2. В формуле (8) под Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках подразумевается эффективный вир- туальный и/или резонансный уровень в зависимости от знака расстройки потенциала. Интеграл в формуле (8) выражается через специальные функции [9, стр. 588]:

Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках , (9)

где Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках. Исследуем наиболее актуальный и интересный для ЦР случай - ушире- ние при низких температурах. Для этого выделим в Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках асимптотическую экспоненту

Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках ,

(Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках; Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках), [10, стр. 117]. Тогда разность (с учетом множителя Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках) в формуле (9) рав- на Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках, откуда Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках. Оценку последнего интеграла нетрудно найти, предварительно сводя его к виду Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках , ( с учетом Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках):

Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках , (Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках).

В результате получаем низкотемпературную оценку уширения:

Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках , (Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках). (10)

Целесообразно обсудить вопрос о пределах применимости полученной формулы.

Для квазидвумерного образца число свободных электронов в приповерхностном атомном слое по порядку величины равно Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахсм - 2Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахсм - 2. Вырождение q2D электронного газа наступает при Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках, что соответствует температуре 0,04 K. Этим значением и определяется нижний предел применимости формулы (10). Из структуры формулы (10) никак не следует ограничение на высоту пика:Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахс - 1 (рис. 2), объясняется это тем, что асимптотический режим (10) формируется из числа электронов, энергия которых сильно зашкаливает от некоторого среднего значения. Хотя вероятность возникновения такого особого режима в ансамбле частиц, с максвелловским распределением по скоростям, весь- ма мала, но в принципе ею нельзя пренебречь. Она является следствием поглощения Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахволны резонансными частицами, число которых при очень низких температурах пренебрежимо мало.

Очевидно, что в подобных ситуациях Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках. Требуемое для наблюдения резо- нанса Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахполе определяется из условия Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках и составляет примерно Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахЭ.

В области высоких температур процедура вычислений реализуется по схеме:

Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках

Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках

Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках.

Здесь Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках, Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках.

В результате для высокотемпературной асимптотики уширения получаем формулу

Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках , (Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках). (11)

Как видно, уширение в высокотемпературной области, слабо зависит от температуры. Физический смысл этого вывода очевиден: при высоких температурах (например, комнатных и выше) число быстрых электронов несравнимо больше чем медленных (резонирующих), число которых исчезающе мало, но опять же, из-за распределения Максвелла, они дают определенный вклад в уширение. Перефразируя, можно сказать так: особый режим (11) представляет собой «парциальный остаток» резонансного рассеяния в области высоких температур. Вероятность наблюдения такого режима всегда близка к нулю, так как он обычно быстро затушевывается другими механизмами уширения. Таким образом, в теоретическом отношении формула (11) представляет меньше интереса, чем (10). Для уточнения пределов оценки (10) необходимо оценить резонансный уровень.

Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках

Рис. 2. Температурный ход полуширины линии поглощения ЦР при различных механизмах рассеяния. Сплошной линии соответствует резонансное рассеяние на нейтральных примесях [4], пунктирной линии - рассеяние на ионах примеси [11, стр. 62]. Кружочки соответствуют рассеянию на приповерхностных акустических фононах. Температурный интервал 0,04 ÷ 0,08 K - соответствует пределам выполнимости асимптотики (10). Приблизительно при температуре 10 K происходит плавная смена механизма рассеяния, в связи с включением рассеяния носителей на ионах примеси. Промежуток 0 ÷ 0,04 K соответствует вырождению электронного газа. В пределах 10 ÷ 12 K q2D - рассеяние носит столкновительный характер (плато): Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках(q2D рассеяние учитывается в приближении медленных частиц; при более высоких температурах (Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахK) Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках и более строгое рассмотрение приводит к зависимости Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках вместо Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках, где Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахдиэлектрическая проницаемость кристалла).

Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках

Рис. 3. 2D спектр поглощения. Окрестность максимума соответствует интервалу 10 ÷ 12 K.



2. Оценка резонансного уровня в двумерной яме

Для оценки резонансного уровня воспользуемся формулой Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках [4], которая достаточно хорошо аппроксимирует зависимость расстройки потенциала от глубины мелкой при- меси. Этой формулы вполне достаточно чтобы оценить порядок Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках. Полагая, что Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках порядка мэВ [2], из определения (3) т.е. из Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках, получаем Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахмэВ и Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахмэВ.

Энергия резонансного Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахсостояния должна быть экспоненциально малой по сравнению с глубиной ямы [7, стр. 201], тогда следует выбрать убывающую ветвь определения (8) из двух

Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках.

Подставляя значения Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках и Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках в исходную формулу, находим что Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахмэВ, что соответствует области температур Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахK. Данная оценка качественно согласуется с нижним пределом асимптотики (10). Радиус потенциала мелкой водородоподобной примеси примерно равен Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахсм. С учетом значений Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках иИзучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахопределяем раз- меры волновых функции резонансных состояний: Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахсм, Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахсм; которые фиксируют область локализации электронов проводимости. В условиях резонансного рассеяния Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках и Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках, где Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках, откуда следуют значения Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахK и Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахK.

Если методами молекулярно-лучевой или металлоорганической газофазной эпитаксии «уменьшить» диаметр Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахq2D- и/или 3D образца до такой степени что Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках (Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках), то следует учитывать эффекты размерного квантования. Мы же предполагаем, что Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках см [3].



3. Расчет времени релаксации

В квазидвумерной ситуации Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках и Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках, тогда

Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках

Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках

Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках

Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках, (Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках). (12)

Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках , Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках. (13)

Температурная зависимость подвижности (13) имеет суперслабо выраженный минимум при

Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках, Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках см 2 / В·с. (14)

Отметим, что значения подвижностиИзучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках см 2 / В·с при Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахK вполне достижимы [11].

В отличие от объемного случая [2], минимум Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках не зависит от резонансного уровня а, следовательно, и от расстройки потенциала. С учетом значения Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахмэВ из (14) находим что Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахK (рис. 4). Минимум температуры локализован в пределах применимости (10) и вполне соответствует верхнему пределу выполнения асимптотики (10).Таким образом, как и ожидалось, особый режим уширения (10) имеет узкий интервал проявления 0,04 ÷ 0,08 K (рис. 2).

Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках

Рис. 4. Температурная зависимость 2D подвижности. Сплошной линией указана теоретическая зависимость (13). Штрихам соответствует рассеяние на ионах примеси, крестикам - рассеяние на акустических фононах [11, стр.62]. В окрестности 10 K происходит смена механизма рассеяния, который учитывается в приближении медленных частиц. В интервале 10 ÷ 12 K (плато) преобладает рассеяние на ионах примеси, сечение которого в низкоэнергетическом пределе имеет корневую зависимость от энергии: Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках. При Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахK также преобладает рассеяние на ионах примеси, однако, сечение рассеяния Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках.



Как видно, подвижность квазидвумерного невырожденного электронного газа в области 0,04 ÷12 K, весьма слабо зависит от температуры, напротив, в окрестности абсолютного нуля имеет место резко выраженный рост (рис. 4). Графики на рисунках 2 и 4 находятся во взаимно обратной связи между собой, что является следствием взаимно обратной пропорциональности между уширением и подвижностью. Это важная деталь позволяет заключить, что пику уширения и минимуму подвижности примерно соответствует температура порядка 0,05 K (рис. 2).

Для определения температуры перехода следует рассмотреть двумерный аналог задачи о движении электрона в поле иона примеси. Как и в 3D случае смену механизма рассеяния будем учитывать в приближении медленных частиц. Известно что Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках [11, стр.61], где Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках числовой множитель порядка единицы, Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахширина мелкой q2D ямы.

При Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахИзучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках [6], в результате получим Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках.

Смена механизма уширения предполагает: Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках, Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках. Ясно, что при очень низких (10), также как и при очень высоких (11), температурах, «переход» не может быть реализован, но с учетом формулы Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках [4] и Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках, находим что Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках(15).

Экспоненциальный множитель не может быть слишком велик, поэтому, не нарушая общ- ности, можно считать что Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахK (рис.4). Так как асимптотика (10) имеет верхним пределом значение 0,08 K, то остается предположить, что формула (11) работает в пределах 0,08 ÷ 10 K (рис. 4). Тогда значение Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках0,08 K примерно соответствует пику уширенияИзучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках (рис. 2).

Для инверсионных слоев [Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках см ] формула (15) лучше соблюдается, чем для квазидвумерных структур, причем Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахсм - 2 , Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахсм - 3 , Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахсм. При этом размер двумерной волновой функции резонансного состояния на порядок превышает Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках и условие преобладания Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахволны, хорошо соблюдается. Во всяком случае, температура перехода весьма чувствительна к концентрации мелкой донорной примеси.

По мере разогрева (Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках) время релаксации начинает зависеть от энергии частиц и столкновительное (аналогичное столкновению упругих шаров) рассеяние сменяется рассеянием электронов в кулоновском поле иона примеси. Из равенства средней тепловой энергии и потен- циальной энергии можно оценит температуру смены специфики рассеяния. Оценка показывает, что смена происходит примерно при 12 K. Именно с этого значения кулоново поле ионов при- меси начинает эффективно влиять на процесс рассеяния электронов (рис. 4).



Выводы

В объемных образцах при очень низких температурах вдали от области температур со- ответствующих резонансному рассеянию электронов (левое крыло) кривая поглощения резо- нансно уширяется Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках, а при «высоких температурах» (правое крыло) Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках. Асимптотика (6) эффективно работает в пределах 0,5 ÷ 10 K (в указанных пределах все ещё не нарушается квазиклассичность: Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках), при более низких 0,05 ÷ 0,5 K температурах требуется учет частичного вырождения электронного газа (рис. 1). Асимптотики (7) и (11) по сути, являются парциальным остатком резонансного рассеяния в области «высоких температур», на фоне других доминирующих механизмов рассеяния: (7а), (7б).

Значение возможного резонансного уровня в q2D образцах примерно составляет 0,0067 мэВ.

Пределы применимости асимптотики (10): 0,04 ÷ 0,08 K. В интервале 10 ÷ 12 K двумерное рассе- яние электронов на ионах примеси, носит в основном, столкновительный характер (контур Лорен- ца, жесткая решетка, плато на рис. 2 и 4).



Примечание 1

Эксперименты показывают, что возможный резонансный уровень в ковалентных полу- проводниках порядка мэВ [2], что соответствует нескольким кельвинам. При этих условиях дли- на волны электрона гораздо меньше его длины свободного пробега: Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахсм [3]. Классический предел ЦР предполагает выполнение условия Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках, а для наблюдения ЦР необходим по крайней мере один оборот, так что Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках и энергия электрического поля рас- ходуется на расширение циклотронной орбиты. Число квантовых состояний в кристаллах поряд- ка 1022. В типичных полупроводниках концентрация носителей заряда колеблется в пределах 1010 ÷1018см - 3, и соответственно чему энергия электрона Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках (Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках, Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахсм - 3 ).

В дальнейшем, для упрощения различных оценок мы полагаем Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахг и используем систему СГС, как предпочтительную.



Примечание 2

Границы применимости асимптотики (6) однозначно определяются температурным ходом химпотенциала в области примесной проводимости: при Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахK уровень химпотенциала проходит посередине между дном Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках и примесными уровнями, а затем начинает подниматься. С учетом того что Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахэВ, а Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках велико, то уровень химпотенциала может приблизиться к дну зоны проводимости и даже пересечь его, так что неравенство Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках нарушится и все преж-ние выводы, основанные на нем, будут по крайней мере не точны. Учет частичного вырождения требует больших трудоемких вычислений, однако можно попытаться оценит нижний темпера-турный предел асимптотики (6): Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках; концентрация электронов в зоне проводимости (Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахсм - 3; перебросы из Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахзоны в Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахзону за счет межзонной подсветки; при концентрациях Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахсм - 3 следует учитывать интерференцию от отдельных Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках центров) сравнивается с эффективной плотностью состояний в последней при температуре 0,5 K. Примерно при 0,05 K уровень химпотенциала пересекает Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках и газ становится полностью вырожденным. Для оценки верхнего температурного предела следует учесть смену механизмов рассеяния. Ясно, что при более высоких температурах (от возможного верхнего предела) сечение рассеяния не зависит от энергии рассеиваемых частиц: Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках (приближение медленных частиц), где Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахэффективный поперечник иона примеси, Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках концентрация ионов примеси. Смена механизма рассеяния предполагает Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках. Оценка показывает что Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахсм [3]. Примерно то же значение длины свободного пробега достигается при концентрации ионов Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахсм - 3 , с учетом того что Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках, по- лучим Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахK. Пику уширения примерно соответствует температура Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахИзучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахK (определение Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках на основе точной формулы (3) требует решения сложного трансцен- дентного уравнения), именно при этой температуре нарушается аппроксимация Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках.

Таким образом, в качестве верхнего предела асимптотики (6) целесообразно взять 10 K.

В окрестности Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахK: Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках, Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках. Из-за сильного перекрытия примес- ных волновых функции примесные уровни вырождаются в примесную полосу с шириной Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках- при нулевой температуре. Соответствующий расчет на основе формулы Брейта-Вигнера приво- дит в этом случае к приближенной формуле (формально это соответствует случаю Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках)

Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках, (Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахK). (16)

Здесь Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках, Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахрезонансный уровень, Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахэнергия связи Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахуровня.

При отсутствии перекрытия (перехода Мотта) (Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках, где Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахрадиус локализации свободного электрона); Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках, (Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахK) .

Математическое дополнение

В промежутке между двумя асимптотиками (6) и (7) можно выделить переходную область:

Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках.

Данная аппроксимация удобна для общего анализа профиля уширения в окрестности пика

когда аппроксиманты (10) и (11) не вполне приемлемы (в пределах нулевой зоны Ландау).

ПодставляяИзучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахв Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках автоматически полу- чим нуль, соответственно чему Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводниках. Разумеется, полученный результат следует рас- сматривать как некоторую Изучение механизмов рассеяния зарядов в полупроводникахсимволику более общих теоретических формул [8].



Литература

1. Ансельм, А.И. / А.И. Ансельм // ЖЭТФ. - 1953. - Т. 24. - Вып. 1. - С. 83 - 89.

2. Имамов, Э.З. / Имамов, Э.З., Колчанова Н.М., Крещук Л.Н., Яссиевич И.Н. // ФТТ. - 1985. - Т. 27, Вып. 1. - С. 69 - 76.

3. Муратов, Т.Т. // Вестн. НГУ. Серия: Физика. - 2013. - Т. 8, Вып. 3. - С. 142 - 158.

4. Андреев, С.П. / С.П. Андреев, Т.В. Павлова, В.А. Небогатов // Труды научной сессии НИЯУ МИФИ. 2010. - Т. 3. Современные проблемы физики конденсированного состояния. - С. 89 - 92.

5. Erginsoy, C. // Phys. Rev. - 1950. - Vol. 75, № 6. - P. 1013 - 1014.

6. Блатт, Ф. Физика электронной проводимости в твердых телах. - М., Мир, 1971. - 470 с.

7. Ландау, Л.Д. Квантовая механика: Нерелятивистская теория / Л.Д. Ландау, Е.М. Лифшиц. - М., Наука, 1989. - 767 с.

8. Andreev, S.P. / S.P. Andreev, A.S. Andreev, Yu. A. Gurvich // Laser Physics. - 1998. - Vol. 8, № 1. - P. 159 - 163.

9. Градштейн, И.С. Таблицы интегралов, сумм, рядов и произведений / И.С. Градштейн, И.М. Рыжик. - М., Наука, 1971. - 1108 с.

10. Олвер, Ф. Введение в асимптотические методы и специальные функции / Ф. Олвер. М., Наука, 1978. - 376 с.

11. Борисенко, С.И. Физика полупроводниковых наноструктур / С.И. Борисенко. - Изд-во Томского политехнического университета, Томск, 2010. - 115 с.

Поступила в редакцию 19 мая 2014 г.



Bulletin of the South Ural State University

Series "Mathematics. Mechanics. Physics"

2014, vol. 6, no. 4, pp. 36 - 47



Contribution of charged carriers resonance scattering to the broadening of cyclotron resonance absorption curve in quasi-two- and three-dimensional semiconductors



T.T. Muratov1



Asymptotic formulas for the broadening of absorption curve of cyclotron resonance (CR) by the resonance scattering of electrons on atomic impurities were obtained with Maxwell's distribution being taken into account. The estimations show that the possible resonance level (~ 0,0067 meV) in quasi two-dimensional semiconductors is one or two orders less than in three-dimensional semiconductors (~ 1 meV). This fact shows that the area of predominant resonance scattering in quasi-two-dimensional semiconductors is less than 0,1 K. The temperature plateau equal to 10 ÷ 12 K was found in 2D absorption spectrum. The applicability of the results obtained is under discussion.

Keywords: cyclotron resonance; broadening absorption curve; resonance scattering; asymptotic formulas.

References

1. Ansel'm A.I. ZhETF. 1953. Vol. 24, Issue 1. pp. 83 - 89. (in Russ.).

2. Imamov E.Z., Kolchanova N.M., Kreshchuk L.N., Yassievich I.N. FTT. 1985. Vol. 27, Issue 1. pp. 69 - 76. (in Russ.).

3. Muratov T.T. Vestn. NGU. Seriya: Fizika. 2013. Vol. 8, Issue 3. pp. 142 - 158. (in Russ.).

4. Andreev S.P., Pavlova T.V., Nebogatov V.A. Trudy nauchnoy sessii NIYaU MIFI (Proceedings of the scientific session of National Research Nuclear University «MEPHI»). T. 3. Sovremennye problemy fiziki kondensirovannogo sostoyaniya (Vol. 3. Modern problems of condensed matter physics). 2010. pp. 89 - 92. (in Russ.).

5. Erginsoy C. Phys. Rev. 1950. Vol. 75, № 6. pp. 1013 - 1014.

6. Blatt F. Fizika elektronnoy provodimosti v tverdykh telakh (Physics of electronic conduction in solids). Moscow, Mir Publ., 1971. 470 p. (in Russ.).

7. Landau L.D., Lifshits E.M. Kvantovaya mekhanika: Nerelyativistskaya teoriya (quantum mechanics: Nonrelativistic Theory). Moscow, Nauka Publ., 1989. 767 p. (in Russ.).

8. Andreev S.P., Andreev A.S., Gurvich Yu. A. Laser Physics. 1998. Vol. 8, no. 1. pp. 159 - 163.

9. Gradshteyn I.S., Ryzhik I.M. Tablitsy integralov, summ, ryadov i proizvedeniy (Table of integrals, sums, series and compositions). Moscow, Fizmatlit Publ., 1962. 1100 p. (in Russ.).

10. Olver F. Vvedenie v asimptoticheskie metody i spetsial'nye funktsii (Introduction to Asymptotics and Special Functions). Moscow, Nauka Publ., 1978. 375 p. (in Russ.). [Olver F.W.J. Introduction to Asymptotics and Special Functions. N.Y., L: Academic press, 1974. 297 p. (in Eng.).]

11. Borisenko S.I. Fizika poluprovodnikovykh nanostruktur (Physics of semiconductor nanostructures). Tomsk, Izdatel'stvo Tomskogo politekhnicheskogo universiteta Publ., 2010. 115 p. (in Russ.).

Received 19 May 2014

1 Муратов Темур Ташкабаевич - соискатель, кафедра методики преподавания физики, Ташкентский государственный педагогический университет имени Низами, Узбекистан.

E-mail: tgpu_info@edu.uz, temur-muratov@yandex.ru

1 Muratov Temur Tashkabaevich is Candidate, Department of Teaching Methods in Physics, Tashkent State Pedagogical University, Tashkent , Uzbekistan.

E-mail: tgpu_info@edu.uz, temur-muratov@yandex.ru</</font>

36Вестник ЮУрГУ. Серия «Математика. Механика. Физика»



 
 
X

Чтобы скачать данный файл, порекомендуйте его своим друзьям в любой соц. сети.

После этого кнопка ЗАГРУЗКИ станет активной!

Кнопки рекомендации:

загрузить материал